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利用波长为650nm，功率为13、25mw的半导体激光分别照射货架期间早熟（霞晖）和中熟（朝晖）2个品种桃的表面，通过计算机视觉系统获取图像，并对图像进行处理，得到图像S1和S2及其像素面积，然后对各种所设参数（AS1、AS2、AS1-AS2、AS1／AS2）和桃的各种品质指标进行分析。结果表明：图像参数AS1-AS2与最大破坏力F、果面底色色度α、果面底色色调角H°和桃果实固酸比SSC／TA之间有较好的相关性，结果验证了激光在水果品质无损检测中的可行性。