50—170keV质子照射对GaAs/Ge太阳能电池光谱响应的影响

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用固定能量(100kev)不同注量(1×10^11-3×10^12cm^-2)或固定注量(3×10^12cm^-2)不同能量(50-170keV)的质子,照射GaAs/Ge太阳电池,获得材料的光谱响应特性随质子能量和注量的变化关系。结果表明,质子辐照对材料的光学性能有破坏性的影响。这种破坏性源于质子辐照引入的大量缺陷,使晶格空间的完整性受到破坏,导致少子的扩散长度降低、表面复合速度增加。在质子能量相同的条件下,电池光学性能衰降随照射注量增大;在注量相同的条件下,辐射能量越高,
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