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高精度校直计
高精度校直计
来源 :激光与光电子学进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:pb2001
【摘 要】
:
日本工业技术院机械技术研究所设计了一种利用干涉对比法的高精度校直计,基础实验已获成功。
【作 者】
:
思源
【出 处】
:
激光与光电子学进展
【发表日期】
:
1989年26期
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日本工业技术院机械技术研究所设计了一种利用干涉对比法的高精度校直计,基础实验已获成功。
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