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滤片—X光二极管阵列探测器的同步测量技术
滤片—X光二极管阵列探测器的同步测量技术
来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:niguibo
【摘 要】
:
本文描述了滤片-X光二极管阵列探测器的同步测量技术,在利用同步时标建立的的归一化坐标系中,不需要明确测量延迟时间,即可恢复由示波器记录的信号脉冲的时间同步特性,然后通过同校
【作 者】
:
孙可煦
【机 构】
:
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
【出 处】
:
核电子学与探测技术
【发表日期】
:
1998年5期
【关键词】
:
同步测量
同步时标
滤片
X光二极管
探测器
Timing measurementTiming pulseDelay timeTemporal evolutio
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本文描述了滤片-X光二极管阵列探测器的同步测量技术,在利用同步时标建立的的归一化坐标系中,不需要明确测量延迟时间,即可恢复由示波器记录的信号脉冲的时间同步特性,然后通过同校正后时间信号还原X光能谱的时间演变过程。
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