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针对现代IP核测试需要更高的测试效率，提出一种基于1500标准的并行测试方法。通过对1500中的边界寄存器与指令寄存器的重新设计，使它支持标准中强制规定的串行测试和用户可自定义的并行测试。在以74LS245外壳设计为例，通过QuartusII软件进行串并行的外测试仿真以及PSpice软件进行串并行内测试仿真，其结果表明，并行接口测试比串行接口测试提高数倍的效率，而且选择的测试方案较多，用户可以选择较优的测试方案。