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针对现有生物芯片图像倾斜校正算法校正精度和运算速度的矛盾问题，提出对矩形样点和圆形样点图像分别采用改进的Hough变换和改进的Radon变换方法进行倾斜校正。改进的Hough变换首先对图像进行二值化，并仅统计矩形样点的上下边缘像素的Hough参数和累计值，然后根据所得的Hough参数空间提取占主导的直线组，最终计算出直线组的平均倾斜角度；改进的Radon变换在提取圆形样点边缘后，对边缘图像进行二级Radon变换，从而得到最佳校正角度。实验证明本文的方法能准确、快速地实现芯片图像的倾斜校正，为生物芯片样点识