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传输线损耗性能测试是高速PCB信号完整性的重要表征手段,文章先介绍了业内应用较多的几种PCB损耗测试方法的原理及应用场景,而后研究了长短线长度、数量、残桩长度等因素对Delta L测试结果的影响,并进一步分析对比了业内常用的SET2DIL方法、TRL方法与Delta L方法的精度差异.研究表明,Delta L方法能有效去除过孔效应的影响,在12.89 GHz时的测试精度与TRL方法相当,是一种操作简便、耗时短、精度高的损耗管控方法.