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2008年5月20日,IEC/TC65/SC65B(装置和过程分析)2008年年会在日本东京举行。出席本次会议的中国代表有:国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪;北京分析仪器研究所马雅娟;西克麦哈克(北京)仪器有限公司方培基、姜培刚;聚光科技(杭州)有限公司郭晓维、王健;广州飒特电力红外技术有限公司吴一冈;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华等。