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Hydrogenated 微晶质的硅(c-Si : H ) 薄电影被劈啪作响的诱导地联合的血浆助手磁控管(ICPMS ) 在 Ar-H2 煤气的混合物扔。在 c-Si 的生长的离子轰炸的角色: H 电影与从散布的 0~100 V.拉曼在底层持有者上增加否定偏爱电压被学习,X光检查衍射( XRD ), Fourier 变换红外线( FTIR )光谱学和传播电子显微镜学( TEM )被执行调查扔的 Si 电影的微观结构变化。散布的拉曼证明高精力离子轰炸导致了 Si 电影的水晶的降级。XRD 结果随离子轰炸精力