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本文在宽的基体变化范围内对波长为０．０８１ｎｍ的连续散射Ｘ－射线进行了研究，表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系，而是呈一种幂函数关系。理论证明和实验结果一致。提出了用０．０８１ｎｍ处的散射强度的函数校正基体效应的方法，并用于地质样品中微量锶的测定，结果显示，在较大的基体变动范围内，本法与传统散射内标法相比准确度提高近４倍，克服了传统方法适应基体变化范围小的缺点。