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文中主要介绍了叠盖电极技术在SPRITE探测器上的实际应用,并给出了具体实验结果.选择适当的叠盖电极尺寸可以使SPRITE的响应率Rv提高一倍以上,探测率D*普遍提高30%左右,高的可达80%.实验结果表明,叠盖电极技术明显地提高了SPRITE器件的性能,是一种简便的提高SPRITE性能的新途径.