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控制器电路板成品通电功能检测造成电容充电,电容储能后无法在短时间内释放内部电荷,后工序周转过程中如板上电子元器件引脚相互接触存在电容残压二次放电问题,造成电子元器件瞬间过压损伤失效隐患.本文主要针对过电损伤中的电容放电问题开展技术研究及应用,提出增加残压检测防护及监控,避免电子元器件的生产过程失效.