粘着力对化学机械抛光芯片分子去除机理影响的数学模型

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基于芯片/磨粒/抛光垫的微观接触力平衡关系,建立了考虑抛光垫/磨粒大变形和粘着力效应的微观接触模型,模型预测结果表明:对于Cu和SiO2芯片而言,粘着力对磨粒所受外力具有重要影响作用;考虑粘着力的情况下,单个磨粒压入芯片的深度比未考虑粘着效应时,最大为原来的2倍和4倍。然而,即使考虑粘着效应时,磨粒压入芯片的深度仍然在分子量级。因此,认为CMP材料的去除机理为单分子层去除机理,为深入研究CMP材料原子/分子去除机理提供了一定的理论指导。
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