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<正> 测试h_(EF)时,必须使被测晶体管的V_(CE)和I_C达到测试条件的规定值。而一般的测试总是固定I_B来测h_(FE),这种方法在晶体管h_(FE)不高,功率大的情况下还可以。但在h_(FE)大和小功率时就有测量精度差。高h_(FE)无法测量等缺点。这儿介绍一种能测pNp和NpN的全集成电路测量电路,具有测量精度高,分档细、线路简单等特点。工作原理线路图如图(一)所示,该电路由基准电压源、恒流源和测试电路组成。由运算放大器