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对高频率元器件的线性和非线性性能进行精确表征。以及获得更高的子系统集成能力的需求。正在逐渐改变着射频和微波设备的测试方式。本文将详细阐述这个问题。并介绍如何通过在测试系统中添加备用的内置信号发生器。以及通过增加扩展测试端口的数量，更有效地使用矢量网络分析仪（VNA）。此外。本文还介绍了为使校准精度保持双端口S参数测量的水平。VNA校准方法的演进过程。