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纺纱工艺过程中的杂质、灰尘量可提供大量与机器参数、机件磨损及成品布质量有关的信息。迄今为止，纺织市场上还无法商业性对纱线中的杂质、灰尘颗粒进行可再现的、自动测试。本文介绍了两种适合完成这些任务的传感器（ＯＩ－测试杂质、灰尘颗粒的光学杂质传感器及ＯＭ－用于测定纱线直径、圆度及微细结构的光学多功能传感器），并介绍了Ｕｓｔｅｒ Ｔｅｓｔｅｒ４－ＳＸ。