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在高科技领域对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此数字系统的可测试性变得极为重要。要提高数字系统的可测性,解决这一问题的有效办法是从数字系统设计上着手,目前较好的办法是采用结构性可测性设计,而结构性可测性设计中电平灵敏扫描设计法使用较为普遍,也很实用。本文就电平灵敏扫描设计法进行探索。