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在实验室衍射仪平台上，开展了以富士公司SR-2025型成像板为样品的标定实验，获得了该样品随时间变化的信号强度衰退曲线．实验以铜靶X射线管为光源，经过三羟甲基甲胺晶体（Trihydroxymethylaminomethane，TAM）分光得到Cu_Ka单能特征辐射．在实验环境温度为（20±1）℃、光源稳定、成像板空间响应均匀、信号强度线性响应等条件下，在不同时刻对成像板上不同位置进行曝光，扫描后获得成像板对单能特征X射线的衰退曲线．对测到的衰退曲线进行数值拟合及不确定度分析，发现其与国外的研究结