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介绍了用Ｘ射线衍射方法测量分子筛的绝对结晶度，这种方法涉及到由热振动引起的散射扩散和物质结晶部分晶格的不完善性，Ｒｕｌａｎｄ法测定分子筛结晶度是从待测分子筛的内部结构出发，对衍射数据进行空气散射校正，偏振校正，Ｃｏｍｐｔｏｎ散射消除和无一形识别等步骤来确定其结晶度。利用标准的散射曲线对康谱顿散射进行特殊的吸收校正。并用该法测定了几种实际样品。