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利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进入到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究。结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti—L2边的能量差为70eV左右;而钛硅分子筛(TS)粒子的EELS信号中O_K边与Ti—L。边的能量差为79eV左右。对比Ti02、TS粒子的EELS,发现TS粒子的Ti—L2、Ti—L3边与Ti02粒子的Ti—L2、Ti—l3边的能量差为1eV,这种能量差异可以作为Ti原子进入TS