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提出了一种VLSI热载流子退化的嵌入式实时预测方法,并在0.18μmCMOS混合信号工艺下完成了预测电路设计。当VLSI热载流子退化引起的瞬态性能退化超过预设的界限时,预测电路会发出一个报警信号。它只占用很小的芯片面积,同时它几乎不与被测电路共用信号(除上电复位信号和电源信号外),从而不会给被测试系统带来任何干扰。