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针对强反光表面、多次反光表面以及半透明材质表面等复杂反光表面的测量问题,本文提出基于区域条纹投射的强反光/多次反射表面测量方法、基于多频条纹投射的半透明材质表面测量方法、以及基于单像素成像的复杂反光表面的测量方法,可以有效地测量这些难测表面,为实现测量反馈到加工质量检测与工艺优化提供了必要的数据源。