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Ｘ射线荧光分析方法在金矿勘查中的应用越来越广泛。作者应用该方法，在不同金矿进行了试验，取得了较好的效果。主要表现在该方法方便，快速，现场出结果，金矿脉上异常明显，矿脉与非矿脉易于区分。特别是应用Ａｓ，Ａｕ，Ｈｇ等滤片对金矿脉追踪和在有利地段导找盲矿体有较好效果。而且该分析方法可对金矿深部情况进行评价，缩短金矿勘探周期。