【摘 要】
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提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定 ,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑 ,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线
【机 构】
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中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放
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提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定 ,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑 ,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长。
A simple and convenient new method is proposed to realize the direct calibration of the wavelength of the X-ray crystal spectrometer. Only a special auxiliary aperture can be added to the crystal surface of the spectrometer, Accurately calibrate the wavelength of the line with the line.
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