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快速生长的TGS晶体缺陷的X射线形貌术研究
快速生长的TGS晶体缺陷的X射线形貌术研究
来源 :人工晶体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:moimon
【摘 要】
:
本文用 X 射线形貌术研究了生长速度不同的 TGS 晶体的缺陷,得到了与浸蚀法一致的结果;比较发现,快速生长的 TGS 晶体中缺陷密度较高;并对缺陷的性质和形成原因进行了讨论。
【作 者】
:
王庆武
董胜明
【机 构】
:
山东大学晶体材料研究所,山东大学晶体材料研究所济南,250100,济南,250100
【出 处】
:
人工晶体学报
【发表日期】
:
1993年3期
【关键词】
:
TGS晶体
晶体缺陷
X射线形貌术
rapid growth
TGS crystal
pyroelectric crystal
crystal defec
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本文用 X 射线形貌术研究了生长速度不同的 TGS 晶体的缺陷,得到了与浸蚀法一致的结果;比较发现,快速生长的 TGS 晶体中缺陷密度较高;并对缺陷的性质和形成原因进行了讨论。文章还指出了快速生长的晶体与正常晶体性能间的差别主要是由于晶体中缺陷密度的不同引起的。
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