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采用sol-gel 法在Zn2SiO4基体中掺杂稀土离子Eu3+和 Y, 制备了Zn2SiO4∶Eu及 Zn2SiO4∶Eu,Y纳米粉体, 研究不同稀土离子浓度对荧光强度的影响, 并采用热重-差热分析、 X射线粉末衍射、荧光光谱分析等技术手段进行表征, 目标产物的平均粒径分别为31 nm和 27 nm.