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污垢检测是石英晶片缺陷检测的重要组成部分。为实现比较理想的污垢检测,采用基于开源计算机视觉库OpenCV的图像处理技术对石英晶片污垢缺陷进行检测。在此通过依次对图像进行平滑去噪、二值化阈值分割、轮廓提取和跟踪等处理,计算出轮廓的周长,将有缺陷与无缺陷晶片轮廓进行比较,为晶片污垢检测提供依据。实验结果表明在VisualStudio 2008环境下,利用OpenCV库函数缩短了大量编程时间,提高了工作效率。