Thermal Warpage Measurement of Electronic Packages by Shadow Moiré with Phase Stepping Technique

来源 :实验力学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:vcnewer
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Phase-stepping technique is applied to the analysis of fringe patterns of shadow moiré of electronic packages.Sensitivity of the fringe pattern analysis is demonstrated to be significantly increased. Thermally induced warpage of electronic packages is successfully measured in real-time as the sample is driven through a simulated reflow process.The paper discusses the technique of phase stepping,noise filtering and its application to the shadow moiré method.Applications of the technology are presented.
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为探究吕家坨井田地质构造格局,根据钻孔勘探资料,采用分形理论和趋势面分析方法,研究了井田7
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