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针对集成电路单元器体数超过百万，功能越来越复杂的数字电路的测量，1980年后期计算机业界成立联合测试工作组（JTAG）研讨一种数字集成电路边界扫描技术，简化传统测试所需的大量激励和输出引脚，只规定4个边界扫描引脚：测试数据输入（TDI）；测试时钟（TCK）；测试模式选择（TMS）；测试数据输出（TDO）。