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双芯GCT(Dual-GCT)是一种基于传统的非对称GCT提出的一种新型电力半导体器件,同时拥有很低的导通损耗和关断损耗。少子寿命是双芯GCT的关键参数,对其静、动态特性有重要的影响。采用ISE-TCAD软件分析了局部寿命控制对波状基区双芯GCT(CP Dual-GCT)特性的影响,结果表明,通过局部电子辐照和质子辐照实现的局部寿命控制可以改善波状基区双芯GCT的综合特性,降低其损耗。