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为准确掌握10-428B工作面导水裂隙带的发育高度,根据工作面特征,采用基于压力拱效应的薄板理论进行导水裂隙带动态高度的分析,具体分析上覆岩层导水裂隙带的动态发育规律,计算得出导水裂隙带的发育高度为42.56m,进一步通过工作面钻孔窥视的方式得出导水裂隙带发育高度为48.68m,验证了理论分析的正确性,准确掌握了工作面上覆导水裂隙带的发育高度。