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电化学阻抗谱是表征金属/氧化物体系的强大工具,应用关键是正确解析.许多金属氧化物有半导体特征,平带电位是关键参数,以文献Bi/Bi2O3体系EIS实例说明根据CR传输线离散参数Ci随特征频率fi的分布,能从共存的多个表面态电容CSS中鉴别出空间电荷层电容CSC,直接根据Mott-Schottky关系得到较准确的平带电位,最后讨论了方法的合理性.