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测试优化选择是复杂电子系统测试性设计中的一个重要问题.首先从测试容差的角度分析了测试发生漏检和虚警的原因,在此基础上建立了测试不可靠条件下一种新的测试选择模型,模型以测试代价、漏检代价和虚警代价之和最小为优化目标,以故障检测率和故障隔离率为约束条件;然后提出一种改进的量子进化算法对模型求解,该算法通过改进一种已有可靠测试选择算法而成,包括种群初始化、适应度计算和种群的进化策略.最后通过两个仿真实例验证了求解算法及模型的有效性和优越性.