以醋酸镍为原料 ,用溶胶 -凝胶法在石英衬底上制备了氧化镍薄膜 ,并利用X射线衍射、紫外 -可见吸收谱对样品进行了表征。结果表明 ,当热处理温度低于 80 0℃时 ,随着温度升高 ,石英衬底上生长的氧化镍薄膜的晶粒逐渐长大 ,其 (2 0 0 )面对应的衍射峰的强度增加 ,取向度提高。当热处理温度超过 80 0℃后 ,晶粒尺寸不但不再增加 ,反而略有下降 ,同时 ,取向度也略有下降。因此就晶粒大小及取向度而言 ,最佳热处理温度为 80 0℃ ,此时薄膜的晶粒尺寸最大 ,(2 0 0 )取向度最高。紫外 -可见吸收谱分析表明 ,氧化镍薄膜的禁带宽度也随着处理温度的变化而变化 ,其变化趋势与晶粒尺寸的变化正好相反 ,即禁带宽度在热处理温度为 80 0℃时有极小值。纳米尺寸粒子中存在的量子约束效应可以说明这一变化趋势。