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激光等离子体X射线辐射的光谱诊断是研究激光物质相互作用的重要方法之一，从发射光谱中可以获得关于等离子体的诸多信息，如电子温度和密度、膨胀速度、电离态等。要完成上述谱分析，要求光谱仪器不但具备较高的光谱分辨，而且同时能获得无高级次衍射影响的“干净”线谱，以满足光谱仪测量精密化的高要求。然而目前采用透射光栅的能谱仪都存在高级次衍射影响，为消除这种负面作用，通过对透射光栅进行标定从而解谱可消除这种影响，但是对于一些复杂的记录设备，比如高时间分辨的x射线条纹相机，要准确对透射光栅进行标定是非常不容易的。