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应用光学显微镜（OM）、扫描电子显微镜（SEM）、电子背散射衍射（Electron Back Scatter Diffraction,EBSD）研究了316SS（Stainless Steel,SS）晶界特征分布（grain boundary character distribution,GBCD）的优化工艺;低温长时间和高温短时间的退火工艺（退火温度,退火时间和冷变形量）对316SS低ΣCSL晶界比例的影响。冷变形5%的固溶316SS经40min再结晶退火后低ΣCSL晶界比例达到80%,其中Σ3晶界比例