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机内测试 (Built-inTest,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径 ,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用 ,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因。在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上 ,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式 ,并以此提出了相应的技术解决路线 ,这对BIT系统的故障诊断设计具有参考价值