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介绍了基于数字电视基带SoC芯片的可测性设计方案。根据系统中不同模块的特点采取有针对性的可测性设计方案,对片内存储器进行内建自测试;对组合逻辑电路、时序逻辑电路采用近全扫描的测试方案;最后采用IEEE1149.1的控制单元作为芯片可测性设计部分的控制单元,控制芯片的测试功能。经测试,该可测性设计满足设计规划的面积和功耗的要求,并且系统的测试覆盖率达到了99.26%。