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高分辨透射电子显微镜是研究微观结构的有力工具。获得可解释的高分辨像,样品厚度要满足苛刻的要求一弱相位物体近似。可以选择在Scherzer欠焦下观察,但有时不得不在大欠焦下拍摄图像提高图像衬度,比如在冷冻电镜中通常拍摄的离焦量为1—2μm,通过扣除成像过程中的衬度传递函数来获得样品的投影结构。