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本文提出一种评估电子系统可靠性的新方法，该方法可以减少传统器件失效率预计方法中所存在的过分依赖现场失效数据的缺点，将失效物理可靠性评估方法和原有经验失效数据相结合进行可靠性评估，既提高了对新产品或新技术产品的设计和试验的支持，又能够保证预计结果的准确性和可信性。该方法主要适用于改进型电子设备的可靠性评估，具有使用简单，准确性高等特点，也便于在同步工程中使用。