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有机材料ＬＢ膜在热释电成像器件方面应用具有较大的潜力，但性较差是其缺点，该文了二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末样品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光电子能谱，研究了基分子结构的热稳定性；采用Ｘ光小角衍射测量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶状主其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。所得结果对设计制作性能稳定的热释电有机ＬＢ有一定的帮助。