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分析了CMOS逻辑门电路在运行时的电流特征，阐明了集成电路中数据与电磁辐射的相关性，建立了寄存器级电磁信息泄漏汉明距离模型。通过针对P89C668单片机实现的DES密码系统的攻击实验，介绍了相关电磁分析（Correlation Electromagnetic Analysis，CEMA）算法的设计与实现，分析了攻击点D的选择和计算方法，成功获得了DES第16轮48位子密钥，验证了电磁信息泄漏汉明距离模型。实验结果表明，工作状态下的CMOS集成电路存在电磁信息泄漏现象，相关分析比差分攻击更有效，DES每一轮