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电子显微镜观察分子筛形貌及结构是分子筛表征中最直观有效的方法。借助透射电镜（TEM）可以看到分子筛孔道的排列状况，扫描电镜（SEM）观察可以直观检测分子筛颗粒形貌或晶粒晶貌。本文着重研究了MCM一41分子筛制样方法及测试条件对扫描电镜图像质量的影响。在制备不同应用目的分子筛样品过程中，要根据不同条件设计制备方法，设置最佳的试验条件才能获取质量好的扫描电镜图像。