GaAs MESFET栅的取向效应:I.解析模型

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yaoyie
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本文根据压电效应模型,详细研究了(100),(011)和(111)衬底上 GaAs MESFET栅的取向特性.通过合适的正交变换,求出了压电电荷密度.考虑到沟道-衬底界面的耗尽层,得到了阈值电压随栅取向变化的解析表达式.结果与两维数值分析基本一致.
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