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ＴｅＯ２单晶体具有优良声光性能，生长大尺寸ＴｅＯ２单晶经常遇到的问题之一是晶体生长条纹，致使单晶质量下降，严重影响声光器件的正常使用。我们通过多年的探索，初步掌握了产生多种生长条纹的机理。根据直拉法晶体生长理论以及不同的生长条纹，我们采取了以下措施：（１）选择合适的拉晶方向。对于ＴｅＯ２单晶来说［００１］方向生长，极易出现系属结构即表面出现竖向生长条纹。［００１］方向为粗糙界面，极易产生生长条纹。而［１１０］方向生长，晶体界面是光滑界面，不易产生生长条纹，这从结构上最大限度地消除了产生竖向表面生长条纹的问