电子产品质量问题的最佳解决方案——数字集成电路参数测试

来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cloudwing5237
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一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析:
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