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电子产品质量问题的最佳解决方案——数字集成电路参数测试
电子产品质量问题的最佳解决方案——数字集成电路参数测试
来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cloudwing5237
【摘 要】
:
一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析:
【出 处】
:
国外电子测量技术
【发表日期】
:
2005年7期
【关键词】
:
数字集成电路
产品质量问题
参数测试
解决方案
最佳
电子
功能测试仪
数字逻辑
低电平
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一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析:
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