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主要介绍了基于CPLD技术设计了新型数字集成芯片检测仪的设计,采用ARM控制芯片LPC2136完成端口检测状态和上位机测试矢量的收集,通过USB接口与上位机通信,在线或离线对常用数字集成芯片的型号做识别、故障分析和定位。该系统扩展性强,既可对未知型号芯片进行检测,也可对逻辑电平进行检测,应用灵活而广泛。