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针对LED点胶缺陷检测速度慢、精度低等问题,提出一种自适应光亮度的LED缺陷检测算法。首先利用最小外接矩形法对LED进行位置校正;然后,对LED进行灰度梯度特征分析,获取荧光胶区域轮廓点坐标,并结合最小二乘法拟合特征圆,分离荧光胶区域;最后,分析了光照对LED缺陷分割的影响,提出基于大津法(Otsu)的自适应光亮度阈值分割方法,提取LED缺陷。经实验验证,所采用方法检测时间低于8ms,在光源的1～8级光亮度范围内,缺陷分割尺寸准确度在0.8以上,分割结果稳定,具备较好的光照变化鲁棒性。