微型计算机控制的芯片自动测试系统

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一、概述用电子计算机或微型计算机实现对集成电路芯片的自动测试,是提高集成电路芯片测试效率的重要手段。以前,集成电路的计算机辅助测试,大多采用中小型电子计算机来实现,这不仅成本高,而且可靠性也低,不易维护与使用。由于微型计算机具有高可靠性,使用灵活,结构简单,功耗小,成本低廉的优点而日益广泛地应用于各个领域,在集成电路自动测试方面,也采用了微型计算机控制。中小规模集成电路芯片的自动测试,对计算机的要求并不高,只要有一定的输入输 First, an overview of the computer or microcomputer to achieve the integrated circuit chip automatic test is to improve the efficiency of integrated circuit chip testing an important means. Previously, computer-aided testing of integrated circuits, mostly using small and medium-sized computers to achieve, which not only costly, but also low reliability, not easy to maintain and use. Due to its high reliability, flexible use, simple structure, low power consumption and low cost, microcomputers are increasingly used in various fields and microcomputer control is adopted in the automatic test of integrated circuits. Small and medium scale integrated circuit chip automatic test, the computer requirements are not high, as long as there is a certain input and output
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