论文部分内容阅读
美国吉时利（Keithley）仪器公司目前宣布增强了其ACS（Automated Characterization Suite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（Wafer-Level Reliability，圆片级可靠性）备选测试工具。4．0版以ACS软件已有的单点和多点并行测试功能为基础，增加了对数据库的支持，